Инспекционнная машина uVISION 300

Инспекционнная машина
uVISION 300

Установка оптической инспекции для автоматизированного определения дефектов готовых изделий полупроводниковой промышленности

Контроль качества

uVISION 300 — современный специализированный инструмент для автоматизированного поиска, идентификации и квалификации дефектов на печатных платах и других изделиях микроэлектронной промышленности методами оптической инспекции.

uVISION 300 может работать в режимах светлого и темного поля, с освещением и регистрацией изображений как в белом видимом свете (полноцветных, либо в выбранной цветовой полосе освещения), так и в УФ освещении (монохромных). Использование УФ освещения при работе на uVISION 300 позволяет достичь рекордного разрешения оптического изображения — до 0.2 мкм!

Конструкция

Для работы с различным оптическим увеличением и с различными полями зрения в uVISION 300 предусмотрена моторизованная турель с возможностью установки сменных объективов. Используются высокоапертурные объективы план-апохроматы и объективы зеркальной схемы для получения высококачественных оптических изображений без привносимых искажений в широком диапазоне длин волн света.

uVISION 300 оснащается высокоточным быстрым сканирующим XY столиком с вакуумным прижимом для установки инспектируемых пластин большого размера -до 300 мм в диаметре. Опционально столик может оснащаться также поворотной осью Theta. Для удобства работы на областях большой площади система оснащается встроенными аппаратными средствами автофокусировки оптики.

В uVISION 300 применяется осветитель схемы Кёлера с равномерной засветкой кадра в поле зрения микроскопа с длительным сроком службы светодиодного источника белого света. Дополнительно в конструкции предусмотрена возможность выделения длин волн освещения оптическими фильтрами нужной полосы. Для работы в УФ диапазоне освещения применяется дополнительный источник света на основе дейтериевой газоразрядной лампы.

Нейросетевой алгоритм

Удобные средства управления, навигации и цифровой обработки позволяют проводить необходимый анализ как полностью автоматически, так и с участием оператора. Встроенные средства анализа оптических изображений методами искусственного интеллекта позволяют быстро и точно идентифицировать и квалифицировать дефекты.

Современный интерфейс позволяет легко находить нужное место на изображении для детального изучения, сшивать изображения покадрово с автоматическим устранением искажений на краях, компенсировать на кадрах оптические аберрации различных типов, автоматически сортировать дефекты и привязывать их местонахождение к координатной сетке инспектируемой пластины.

Применения

  • Визуальный контроль микроэлектронных схем и их элементов
  • Поиск, идентификация и квалификация дефектов
  • Сортировка дефектов, составление карты дефектов
Применения Применения Применения Применения

Технические параметры

Столик для крепления образца с системой вакуумного удержания образцов Размеры образца ø 25 – 300 мм
ø 1 – 12’’
Моторизованный XY-столик для перемещения образца Диапазон 300х300 мм
Вращение вокруг вертикальной оси Доступно*
Моторизованная револьверная головка Объективы До 6 объективов в турели
Пассивная виброизоляция Материал Габбро-диабаз
Полоса частот > 200 Гц
Термостабилизация Активная стабилизация температуры ПИД-регуляция
Стабильность температуры при изменении окружающей температуры на 1°С < 0.05 °С

* – опционально

Ключевые особенности и преимущества

  • Моторизованная смена объективов в револьверной головке.
  • Варианты установки 4, 5 или 6 объективов.
  • Система видеорегистрации в белом свете и/или в ультрафиолете, в зависимости от задач.
  • Моторизованный позиционер для образцов большого размера до Ø300 мм.
  • Высокое оптическое разрешение (до 0.2 мкм при UV освещении).
  • Удобное и простое в использовании ПО, быстрые потоковые измерения при межоперационном контроле.
  • Встроенные средства анализа на базе искусственного интеллекта, обработка изображений и обнаружение дефектов с точностью >85%.
  • Возможность настройки ПО для квалификации типов дефектов и переобучения нейросетевого алгоритма в случае появления нового типа дефектов.
  • Монолитная конструкция основания, снижение паразитных шумов в полосе частот >200 Гц на 30 дБ.
  • Возможность комплектации термостабилизирующим шкафом для минимизации влияния дрейфа и теплового шума.Возможность комплектации термостабилизирующим шкафом для минимизации влияния дрейфа и теплового шума.