Активная Фотоника представила новейшую разработку на форуме «Микроэлектроника 2024»

В работе форума обсуждались актуальные вопросы разработки, производства и применения отечественной электронной компонентной базы и высокоинтегрированных электронных модулей; развития отечественной микроэлектроники, разработки и возможностей современных технологий.

Компания «Активная Фотоника» приняла активное участие в работе выставочной экспозиции, а также представила доклад на тему «Комбинированные сканирующие микроскопы с механическим и оптическим поточечным зондированием электронных схем на микро- и нано- масштабе для измерения их локальных топографических, механических и электрических характеристик и поиска скрытых структурных дефектов».

На стенде компании состоялась демонстрация новейшей отечественной разработки – универсального профилометра uSTEP 300, объединяющего возможности атомно-силовой, стилусной, оптической профилометрии, а также лазерный спектральный анализатор «Раман-зонд» и позволяющего проводить диагностику полупроводниковых пластин различного диаметра до 300 мм включительно.

Подробнее ознакомиться с программой мероприятия и докладами участников можно по ссылкам: microelectronica.pro, system.proconf.net/profile/speakers-view.

Благодарим организаторов за возможность принять участие в столь масштабном и значимом событии, а также всех гостей и посетителей выставки за проявленный интерес к нашей компании и продукции!