Опубликовано: 21.03.2025

«Активная Фотоника» представила линейку нанолабораторий на симпозиуме в Нижнем Новгороде

ООО «Активная Фотоника» выступила спонсором XXIX Симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» и представила сразу несколько ключевых решений для нанодиагностики: профилометр uSTEP 300, нанолабораторию NTEGRA Spectra, специализированный комплекс NTEGRA MFM и сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Prima.

10–14 марта 2025 года в Нижнем Новгороде прошел XXIX Симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника». Форум традиционно собирает ведущие научные школы страны: в этом году в его работе приняли участие более 650 специалистов из исследовательских центров и университетов от Калининграда до Владивостока.

ООО «Активная Фотоника» поддержала мероприятие в качестве спонсора и стала активным участником выставочной экспозиции. На стенде компании были представлены новейшие приборы для исследований на наноуровне:

  • многофункциональный профилометр uSTEP 300 для высокоточного анализа топографии;
  • зондовая нанолаборатория NTEGRA Spectra, объединяющая возможности оптической спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии;
  • специализированный комплекс NTEGRA MFM для магнитных исследований;
  • рабочий образец сканирующего зондового микроскопа NTEGRA Prima.

Гости выставки смогли познакомиться с реальными примерами применения оборудования для решения задач наноэлектроники, материаловедения и квантовых технологий, обсудить технические детали и возможные конфигурации систем под конкретные задачи лабораторий.

Научная программа симпозиума охватывала широкий спектр направлений: от сверхпроводящих и магнитных наноструктур до полупроводниковых систем, методов зондовой, электронно- и ионно-лучевой нанолитографии, а также многослойной и кристаллической рентгеновской оптики и элементной базы квантовых технологий на основе конденсированных сред.

Директор по науке ООО «Активная Фотоника» М. А. Трусов выступил с докладом «Современные сканирующие микроскопы для картирования поверхности оптическими и зондовыми методами на наномасштабе». В своем сообщении он рассмотрел актуальные подходы к комбинированному картированию поверхности, возможности комплексной диагностики и примеры выявления нанодефектов с использованием современных отечественных измерительных систем.

Компания благодарит организаторов и партнеров за насыщенную программу и профессиональное взаимодействие, а также всех участников и гостей симпозиума за высокий интерес к представленным решениям и содержательные дискуссии.